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影響漆膜測厚儀測量準確性的因素 影響(xiang)漆膜測(ce)厚(hou)儀測(ce)量準(zhun)確(que)性(xing)(xing)(xing)的因素a） 基(ji)體金(jin)屬(shu)(shu)磁(ci)性(xing)(xing)(xing)質磁(ci)性(xing)(xing)(xing)法測(ce)厚(hou)受基(ji)體金(jin)屬(shu)(shu)磁(ci)性(xing)(xing)(xing)變化的影響(xiang)（在(zai)實際應(ying)用(yong)中，低(di)碳鋼磁(ci)性(xing)(xing)(xing)的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和(he)冷加工因素的影響(xiang)，應(ying)使用(yong)與試件(jian)基(ji)體金(jin)屬(shu)(shu)具有相同(tong)性(xing)(xing)(xing)質的標準(zhun)片對儀器(qi)進行校準(zhun)；亦可用(yong)待(dai)涂覆(fu)試件(jian)進行校準(zhun)。b）基(ji)體...
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時代覆層測厚儀故障代號的含意及解決方法 時(shi)代覆(fu)(fu)層(ceng)測(ce)(ce)厚儀(yi)故障代號的(de)含意(yi)及(ji)解(jie)決(jue)方法E02測(ce)(ce)頭(tou)或(huo)(huo)儀(yi)器損壞 解(jie)決(jue)辦法：修理測(ce)(ce)頭(tou)或(huo)(huo)儀(yi)器E03測(ce)(ce)頭(tou)或(huo)(huo)儀(yi)器損壞 解(jie)決(jue)辦法：修理測(ce)(ce)頭(tou)或(huo)(huo)儀(yi)器，應采用輔助(zhu)E04測(ce)(ce)量(liang)值發(fa)生大的(de)波動（例如在軟覆(fu)(fu)蓋層(ceng)上測(ce)(ce)量(liang)時(shi)）；磁(ci)場(chang)影(ying)響解(jie)決(jue)辦法：在軟質覆(fu)(fu)蓋層(ceng)上測(ce)(ce)量(liang)時(shi)應采用輔助(zhu)裝(zhuang)置(zhi)進行測(ce)(ce)量(liang)...
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紅外線測溫儀原理和選型 紅(hong)(hong)外(wai)線測(ce)(ce)溫儀(yi)原(yuan)(yuan)理(li)(li)和選型(xing)了(le)解更(geng)多(duo)關于紅(hong)(hong)外(wai)及(ji)紅(hong)(hong)外(wai)測(ce)(ce)溫儀(yi)產(chan)品知識，以(yi)便(bian)更(geng)好的了(le)解非接觸測(ce)(ce)量(liang)的原(yuan)(yuan)理(li)(li)及(ji)優勢。紅(hong)(hong)外(wai)測(ce)(ce)溫儀(yi)工作原(yuan)(yuan)理(li)(li)-紅(hong)(hong)外(wai)測(ce)(ce)溫儀(yi)由(you)光(guang)學系(xi)統，光(guang)電探測(ce)(ce)器，信號大(da)器及(ji)信號處理(li)(li).顯示輸出等部分組成。光(guang)學系(xi)統匯聚其視(shi)場內的目標(biao)紅(hong)(hong)外(wai)輻射能(neng)量(liang)，紅(hong)(hong)外(wai)能(neng)量(liang)聚焦在光(guang)電探測(ce)(ce)器上并...
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表面粗糙度的基本知識 一、表(biao)(biao)面粗(cu)(cu)糙度的(de)概(gai)念表(biao)(biao)面粗(cu)(cu)糙度是(shi)指加工表(biao)(biao)面具有(you)的(de)較小(xiao)間距(ju)和微小(xiao)峰(feng)谷的(de)不平(ping)度。其兩波峰(feng)或兩波谷之間的(de)距(ju)離(波距(ju))很小(xiao)(在1mm以(yi)下)，它屬于微觀幾何(he)形狀誤(wu)差。
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涂層測厚儀的分類以及測量原理 涂層(ceng)(ceng)測厚(hou)儀的分類以及測量原理 對材料表(biao)(biao)面(mian)保護、裝飾(shi)形成(cheng)的覆蓋層(ceng)(ceng)，如涂層(ceng)(ceng)、鍍層(ceng)(ceng)、敷層(ceng)(ceng)、貼層(ceng)(ceng)、化(hua)學生成(cheng)膜等(deng)，在有(you)關國(guo)家和國(guo)際(ji)標準(zhun)中稱為(wei)覆層(ceng)(ceng)（coating）。 覆層(ceng)(ceng)厚(hou)度測量已成(cheng)為(wei)加工工業、表(biao)(biao)面(mian)工程質量檢測的重(zhong)要(yao)一(yi)環，是產品(pin)達到優等(deng)質量標準(zhun)的必備手段(duan)。為(wei)使產品(pin)...
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涂層測厚儀的電渦流測量原理 高頻交流信號在(zai)測(ce)頭(tou)線(xian)圈中產(chan)生(sheng)電磁場，測(ce)頭(tou)靠近導(dao)(dao)體時，就在(zai)其中形成渦流。測(ce)頭(tou)離導(dao)(dao)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測(ce)頭(tou)與(yu)導(dao)(dao)電基體之間距離的(de)大小，也就是導(dao)(dao)電基體上非(fei)導(dao)(dao)電覆層(ceng)厚(hou)度的(de)大小。由于這類測(ce)頭(tou)專門測(ce)量非(fei)鐵磁金屬基材(cai)上的(de)覆層(ceng)厚(hou)度，所...
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表面粗糙度儀工作原理 表(biao)(biao)面粗糙度儀工作原理當鐵芯處(chu)于(yu)(yu)差動電感(gan)線(xian)圈的中間(jian)位(wei)置時，指(zhi)零表(biao)(biao)指(zhi)針指(zhi)示出零位(wei)，即保(bao)證(zheng)處(chu)于(yu)(yu)電感(gan)變化(hua)的線(xian)性范(fan)圍之內。所以(yi)，在測量之前(qian)，必須(xu)調整指(zhi)零表(biao)(biao)，使(shi)其(qi)處(chu)于(yu)(yu)零位(wei)。經(jing)過噪聲(sheng)濾波和波度濾波以(yi)后(hou)，剩下(xia)來(lai)的就是與(yu)被測表(biao)(biao)面粗糙度成比例的信號(hao)，再經(jing)平(ping)均(jun)表(biao)(biao)放(fang)大器后(hou)，所輸出的電...
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時代硬度計的試驗步驟 時(shi)代(dai)硬度(du)計(ji)是(shi)一個品牌(pai)，時(shi)代(dai)源自北京(jing)時(shi)代(dai)光南檢(jian)測公司。北京(jing)時(shi)代(dai)光南檢(jian)測技術有限公司是(shi)專門(men)的力學性能及無損(sun)檢(jian)測儀器生產廠(chang)家，權威度(du)高，時(shi)代(dai)的產品在國內(nei)各地都豐(feng)富(fu)著檢(jian)測領域。 適用材料:鋼(gang)(gang)和鑄鋼(gang)(gang)、合金工具(ju)鋼(gang)(gang)、不(bu)銹鋼(gang)(gang)、灰鑄鐵(tie)、球墨(mo)鑄鐵(tie)、鑄鋁合金、銅鋅合金...
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時代測厚儀使用注意事項 時代測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀使(shi)用注(zhu)意事項時代測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀的測(ce)(ce)(ce)試方法(fa)主(zhu)要有：磁性測(ce)(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，放射測(ce)(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，電解測(ce)(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，渦流測(ce)(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，超聲波測(ce)(ce)(ce)厚(hou)法(fa)。測(ce)(ce)(ce)量注(zhu)意事項：⒈在(zai)進行測(ce)(ce)(ce)試的時候(hou)要注(zhu)意標準片集體(ti)的金屬磁性和表(biao)面粗糙度應當與試件(jian)相似。⒉測(ce)(ce)(ce)量時側頭與試樣表(biao)面保持垂直。⒊時代測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀測(ce)(ce)(ce)量時要注(zhu)意基體(ti)金...
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維氏硬度計的壓痕對角線測量 維氏(shi)法(fa)中壓(ya)痕對(dui)角線(xian)增(zeng)(zeng)長與其壓(ya)痕面(mian)積增(zeng)(zeng)加(jia)(jia)成(cheng)正比，而布氏(shi)硬(ying)度(du)(du)壓(ya)痕(d)增(zeng)(zeng)加(jia)(jia)到一(yi)定程(cheng)度(du)(du)后，d值變(bian)化(hua)小(xiao)面(mian)積變(bian)大(da)(da)，這時測(ce)量誤差對(dui)測(ce)量結果影響較(jiao)大(da)(da)。因(yin)此，采用對(dui)角線(xian)長度(du)(du)計(ji)量的(de)維氏(shi)法(fa)較(jiao)布氏(shi)法(fa)要(yao)精準。與洛氏(shi)法(fa)比較(jiao)，它有一(yi)個統一(yi)的(de)標(biao)尺(chi)，可適用于較(jiao)大(da)(da)范(fan)圍變(bian)化(hua)的(de)硬(ying)度(du)(du)測(ce)試，如某一(yi)種金...