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影響漆膜測厚儀測量準確性的因素 影響漆膜測(ce)厚儀(yi)測(ce)量準確性的(de)(de)(de)因(yin)素a） 基(ji)體(ti)金屬(shu)磁(ci)性質磁(ci)性法測(ce)厚受基(ji)體(ti)金屬(shu)磁(ci)性變化(hua)的(de)(de)(de)影響（在實(shi)際應用中，低碳鋼磁(ci)性的(de)(de)(de)變化(hua)可以(yi)認為(wei)是輕微的(de)(de)(de)），為(wei)了避免熱處理和冷加工因(yin)素的(de)(de)(de)影響，應使(shi)用與試(shi)件基(ji)體(ti)金屬(shu)具有(you)相同性質的(de)(de)(de)標準片(pian)對儀(yi)器(qi)進行(xing)校(xiao)準；亦(yi)可用待涂覆試(shi)件進行(xing)校(xiao)準。b）基(ji)體(ti)...
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時代覆層測厚儀故障代號的含意及解決方法 時代覆層(ceng)(ceng)測(ce)厚儀(yi)(yi)故(gu)障代號(hao)的(de)含意(yi)及解(jie)(jie)決(jue)方法(fa)E02測(ce)頭或儀(yi)(yi)器損壞 解(jie)(jie)決(jue)辦法(fa)：修(xiu)理(li)測(ce)頭或儀(yi)(yi)器E03測(ce)頭或儀(yi)(yi)器損壞 解(jie)(jie)決(jue)辦法(fa)：修(xiu)理(li)測(ce)頭或儀(yi)(yi)器，應(ying)采(cai)用輔(fu)助(zhu)E04測(ce)量值發生大(da)的(de)波(bo)動（例如在軟(ruan)(ruan)覆蓋層(ceng)(ceng)上(shang)(shang)測(ce)量時）；磁場影(ying)響解(jie)(jie)決(jue)辦法(fa)：在軟(ruan)(ruan)質覆蓋層(ceng)(ceng)上(shang)(shang)測(ce)量時應(ying)采(cai)用輔(fu)助(zhu)裝置進(jin)行測(ce)量...
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紅外線測溫儀原理和選型 紅(hong)外(wai)(wai)線測溫(wen)儀(yi)原理和選型了(le)解更(geng)多關(guan)于(yu)紅(hong)外(wai)(wai)及紅(hong)外(wai)(wai)測溫(wen)儀(yi)產品(pin)知識，以便更(geng)好(hao)的了(le)解非接觸測量(liang)的原理及優(you)勢。紅(hong)外(wai)(wai)測溫(wen)儀(yi)工作原理-紅(hong)外(wai)(wai)測溫(wen)儀(yi)由光(guang)學系統(tong)，光(guang)電探測器(qi)，信號大器(qi)及信號處理.顯示輸出等部分組成。光(guang)學系統(tong)匯聚其視場(chang)內(nei)的目(mu)標紅(hong)外(wai)(wai)輻射能量(liang)，紅(hong)外(wai)(wai)能量(liang)聚焦在光(guang)電探測器(qi)上(shang)并(bing)...
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表面粗糙度的基本知識 一、表(biao)面粗(cu)糙度(du)的(de)概(gai)念表(biao)面粗(cu)糙度(du)是(shi)指加工(gong)表(biao)面具(ju)有的(de)較(jiao)小間距和微(wei)小峰(feng)谷(gu)的(de)不平度(du)。其兩波峰(feng)或兩波谷(gu)之間的(de)距離(li)(波距)很(hen)小(在1mm以(yi)下)，它屬(shu)于微(wei)觀幾何形(xing)狀誤差。
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涂層測厚儀的分類以及測量原理 涂層(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)的(de)分類以及測(ce)(ce)量(liang)原(yuan)理 對材料表(biao)面保(bao)護、裝飾(shi)形成(cheng)的(de)覆蓋層(ceng)，如涂層(ceng)、鍍層(ceng)、敷層(ceng)、貼層(ceng)、化學生(sheng)成(cheng)膜等，在有關國家和(he)國際標準(zhun)中稱為(wei)(wei)覆層(ceng)（coating）。 覆層(ceng)厚(hou)度測(ce)(ce)量(liang)已成(cheng)為(wei)(wei)加工(gong)工(gong)業、表(biao)面工(gong)程質量(liang)檢測(ce)(ce)的(de)重要一環，是產(chan)品(pin)達到優等質量(liang)標準(zhun)的(de)必備手段。為(wei)(wei)使產(chan)品(pin)...
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涂層測厚儀的電渦流測量原理 高(gao)頻(pin)交流(liu)(liu)信號在測(ce)(ce)頭線圈中產(chan)生電磁(ci)場，測(ce)(ce)頭靠近(jin)(jin)導(dao)(dao)體(ti)時，就(jiu)在其中形成渦流(liu)(liu)。測(ce)(ce)頭離導(dao)(dao)電基(ji)(ji)體(ti)愈近(jin)(jin)，則(ze)渦流(liu)(liu)愈大(da)(da)，反射(she)阻抗(kang)也愈大(da)(da)。這個反饋作用(yong)量表征了測(ce)(ce)頭與(yu)導(dao)(dao)電基(ji)(ji)體(ti)之間距(ju)離的大(da)(da)小，也就(jiu)是導(dao)(dao)電基(ji)(ji)體(ti)上(shang)非(fei)導(dao)(dao)電覆(fu)層厚度(du)的大(da)(da)小。由于(yu)這類測(ce)(ce)頭專門測(ce)(ce)量非(fei)鐵磁(ci)金(jin)屬基(ji)(ji)材上(shang)的覆(fu)層厚度(du)，所...
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表面粗糙度儀工作原理 表(biao)(biao)(biao)面(mian)粗(cu)糙度(du)儀工作原理當(dang)鐵芯處(chu)于(yu)(yu)差動電感(gan)線圈(quan)的中間位(wei)置時，指(zhi)零表(biao)(biao)(biao)指(zhi)針指(zhi)示(shi)出(chu)零位(wei)，即(ji)保證處(chu)于(yu)(yu)電感(gan)變化的線性范圍(wei)之(zhi)內。所以(yi)，在測量之(zhi)前，必須調整指(zhi)零表(biao)(biao)(biao)，使其處(chu)于(yu)(yu)零位(wei)。經(jing)過噪聲濾(lv)波(bo)(bo)和波(bo)(bo)度(du)濾(lv)波(bo)(bo)以(yi)后(hou)(hou)，剩下來(lai)的就(jiu)是與被測表(biao)(biao)(biao)面(mian)粗(cu)糙度(du)成比例的信(xin)號，再經(jing)平(ping)均(jun)表(biao)(biao)(biao)放(fang)大器后(hou)(hou)，所輸(shu)出(chu)的電...
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時代硬度計的試驗步驟 時(shi)(shi)代(dai)硬度計是(shi)一個品牌，時(shi)(shi)代(dai)源自北(bei)京時(shi)(shi)代(dai)光南(nan)檢測公司。北(bei)京時(shi)(shi)代(dai)光南(nan)檢測技術有(you)限公司是(shi)專門的(de)力學性能(neng)及無損(sun)檢測儀器生產廠家，權威度高，時(shi)(shi)代(dai)的(de)產品在(zai)國內各(ge)地都豐富(fu)著檢測領域(yu)。 適(shi)用材料:鋼(gang)和鑄鋼(gang)、合(he)金(jin)工具鋼(gang)、不(bu)銹鋼(gang)、灰鑄鐵、球墨(mo)鑄鐵、鑄鋁(lv)合(he)金(jin)、銅鋅合(he)金(jin)...
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時代測厚儀使用注意事項 時(shi)(shi)代測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)使用(yong)注(zhu)意事(shi)項時(shi)(shi)代測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)的測(ce)(ce)試(shi)方法(fa)主要有：磁性測(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)，放射測(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)，電解測(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)，渦(wo)流測(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)，超聲波(bo)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)。測(ce)(ce)量注(zhu)意事(shi)項：⒈在進行測(ce)(ce)試(shi)的時(shi)(shi)候要注(zhu)意標(biao)準(zhun)片集體的金屬(shu)磁性和表(biao)面粗糙度應當與(yu)試(shi)件(jian)相(xiang)似。⒉測(ce)(ce)量時(shi)(shi)側頭(tou)與(yu)試(shi)樣表(biao)面保持垂直。⒊時(shi)(shi)代測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)測(ce)(ce)量時(shi)(shi)要注(zhu)意基(ji)體金...
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維氏硬度計的壓痕對角線測量 維氏(shi)法(fa)中壓痕(hen)對(dui)(dui)角線增長與(yu)(yu)其壓痕(hen)面積(ji)增加(jia)(jia)成正比(bi)，而(er)布(bu)氏(shi)硬度壓痕(hen)(d)增加(jia)(jia)到(dao)一定(ding)程度后，d值(zhi)變化小面積(ji)變大，這時(shi)測(ce)(ce)量誤差對(dui)(dui)測(ce)(ce)量結(jie)果(guo)影響較大。因(yin)此，采用(yong)對(dui)(dui)角線長度計量的維氏(shi)法(fa)較布(bu)氏(shi)法(fa)要(yao)精(jing)準。與(yu)(yu)洛氏(shi)法(fa)比(bi)較，它(ta)有一個統一的標尺，可適用(yong)于較大范圍變化的硬度測(ce)(ce)試，如某一種金...