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影響漆膜測厚儀測量準確性的因素 影(ying)響漆膜測厚儀測量(liang)準確(que)性(xing)的(de)因素(su)a） 基(ji)體(ti)金屬(shu)磁(ci)性(xing)質磁(ci)性(xing)法測厚受(shou)基(ji)體(ti)金屬(shu)磁(ci)性(xing)變化的(de)影(ying)響（在(zai)實(shi)際應用(yong)中，低碳鋼磁(ci)性(xing)的(de)變化可以認為是(shi)輕微的(de)），為了避免熱處(chu)理和冷加工因素(su)的(de)影(ying)響，應使用(yong)與試(shi)件基(ji)體(ti)金屬(shu)具有相同性(xing)質的(de)標準片(pian)對儀器進行(xing)校(xiao)準；亦(yi)可用(yong)待涂覆試(shi)件進行(xing)校(xiao)準。b）基(ji)體(ti)...
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時代覆層測厚儀故障代號的含意及解決方法 時代覆層測(ce)厚儀(yi)(yi)故障代號的含意(yi)及解(jie)(jie)決方(fang)法E02測(ce)頭(tou)(tou)或(huo)儀(yi)(yi)器(qi)損壞 解(jie)(jie)決辦(ban)法：修理測(ce)頭(tou)(tou)或(huo)儀(yi)(yi)器(qi)E03測(ce)頭(tou)(tou)或(huo)儀(yi)(yi)器(qi)損壞 解(jie)(jie)決辦(ban)法：修理測(ce)頭(tou)(tou)或(huo)儀(yi)(yi)器(qi)，應(ying)(ying)采用(yong)輔助E04測(ce)量值發生大的波動（例如在軟覆蓋(gai)層上測(ce)量時）；磁(ci)場影響解(jie)(jie)決辦(ban)法：在軟質覆蓋(gai)層上測(ce)量時應(ying)(ying)采用(yong)輔助裝(zhuang)置進行測(ce)量...
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紅外線測溫儀原理和選型 紅(hong)(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)(wai)線測(ce)(ce)(ce)溫(wen)(wen)儀(yi)原(yuan)理(li)和選型了(le)解(jie)更多關于紅(hong)(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)(wai)及紅(hong)(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)(wai)測(ce)(ce)(ce)溫(wen)(wen)儀(yi)產品知(zhi)識，以便更好的(de)了(le)解(jie)非接(jie)觸(chu)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)原(yuan)理(li)及優(you)勢。紅(hong)(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)(wai)測(ce)(ce)(ce)溫(wen)(wen)儀(yi)工作原(yuan)理(li)-紅(hong)(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)(wai)測(ce)(ce)(ce)溫(wen)(wen)儀(yi)由光學系(xi)統(tong)，光電探測(ce)(ce)(ce)器，信(xin)(xin)號(hao)(hao)大器及信(xin)(xin)號(hao)(hao)處理(li).顯示輸出等部分組成。光學系(xi)統(tong)匯(hui)聚(ju)其視場內的(de)目標紅(hong)(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)(wai)輻射能(neng)量(liang)(liang)，紅(hong)(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)(wai)能(neng)量(liang)(liang)聚(ju)焦在光電探測(ce)(ce)(ce)器上并...
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表面粗糙度的基本知識 一(yi)、表(biao)面粗(cu)糙(cao)(cao)度的(de)(de)概(gai)念(nian)表(biao)面粗(cu)糙(cao)(cao)度是(shi)指(zhi)加工表(biao)面具有(you)的(de)(de)較小(xiao)間(jian)距和微(wei)小(xiao)峰(feng)谷的(de)(de)不平度。其兩(liang)波峰(feng)或(huo)兩(liang)波谷之間(jian)的(de)(de)距離(波距)很小(xiao)(在1mm以(yi)下)，它屬于微(wei)觀幾(ji)何形狀誤差。
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涂層測厚儀的分類以及測量原理 涂(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)厚儀的(de)分類以及測(ce)量原理 對材料表面保護、裝飾(shi)形成的(de)覆(fu)蓋層(ceng)(ceng)(ceng)，如涂(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)、鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)、敷層(ceng)(ceng)(ceng)、貼層(ceng)(ceng)(ceng)、化學生成膜等(deng)，在有(you)關國家和國際標(biao)準中(zhong)稱為覆(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)（coating）。 覆(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚度測(ce)量已成為加工(gong)工(gong)業、表面工(gong)程質量檢(jian)測(ce)的(de)重要一環，是(shi)產(chan)品(pin)達到優等(deng)質量標(biao)準的(de)必(bi)備手段。為使產(chan)品(pin)...
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涂層測厚儀的電渦流測量原理 高頻交流(liu)(liu)信號(hao)在(zai)測(ce)頭(tou)(tou)線圈中(zhong)(zhong)產(chan)生電(dian)(dian)磁場，測(ce)頭(tou)(tou)靠近導(dao)體時，就在(zai)其(qi)中(zhong)(zhong)形成渦流(liu)(liu)。測(ce)頭(tou)(tou)離導(dao)電(dian)(dian)基(ji)體愈近，則渦流(liu)(liu)愈大(da)，反射(she)阻抗(kang)也愈大(da)。這(zhe)個反饋作用量表征了測(ce)頭(tou)(tou)與導(dao)電(dian)(dian)基(ji)體之間距離的大(da)小(xiao)，也就是導(dao)電(dian)(dian)基(ji)體上非(fei)(fei)導(dao)電(dian)(dian)覆(fu)層厚度的大(da)小(xiao)。由于這(zhe)類測(ce)頭(tou)(tou)專門測(ce)量非(fei)(fei)鐵磁金屬(shu)基(ji)材上的覆(fu)層厚度，所(suo)...
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表面粗糙度儀工作原理 表(biao)(biao)面粗糙度(du)儀(yi)工作(zuo)原理當鐵(tie)芯處(chu)(chu)于(yu)差動電(dian)感線圈的中間位(wei)(wei)置時，指(zhi)零(ling)表(biao)(biao)指(zhi)針指(zhi)示出零(ling)位(wei)(wei)，即保證處(chu)(chu)于(yu)電(dian)感變化的線性范圍之內(nei)。所以(yi)，在測(ce)量之前，必須(xu)調整指(zhi)零(ling)表(biao)(biao)，使其處(chu)(chu)于(yu)零(ling)位(wei)(wei)。經(jing)(jing)過噪聲濾(lv)波(bo)和波(bo)度(du)濾(lv)波(bo)以(yi)后，剩下來的就(jiu)是與被測(ce)表(biao)(biao)面粗糙度(du)成比例的信號，再經(jing)(jing)平(ping)均表(biao)(biao)放大器后，所輸出的電(dian)...
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時代硬度計的試驗步驟 時代(dai)硬度計是一個品(pin)(pin)牌，時代(dai)源自北京時代(dai)光南檢(jian)測(ce)公司(si)。北京時代(dai)光南檢(jian)測(ce)技術有(you)限公司(si)是專門的力(li)學性(xing)能(neng)及無損檢(jian)測(ce)儀(yi)器生產廠(chang)家，權威(wei)度高，時代(dai)的產品(pin)(pin)在(zai)國(guo)內各地都豐富著檢(jian)測(ce)領域。 適用材料:鋼(gang)(gang)(gang)和鑄(zhu)鋼(gang)(gang)(gang)、合金工具(ju)鋼(gang)(gang)(gang)、不(bu)銹(xiu)鋼(gang)(gang)(gang)、灰(hui)鑄(zhu)鐵、球(qiu)墨(mo)鑄(zhu)鐵、鑄(zhu)鋁(lv)合金、銅鋅合金...
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時代測厚儀使用注意事項 時代測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)使(shi)用注(zhu)意(yi)(yi)事項(xiang)時代測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)的測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方法(fa)主要(yao)有：磁(ci)性(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)，放射測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)，電解測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)，渦(wo)流測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)，超聲波測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)法(fa)。測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)注(zhu)意(yi)(yi)事項(xiang)：⒈在進行測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)的時候要(yao)注(zhu)意(yi)(yi)標準片集體的金屬磁(ci)性(xing)和(he)表(biao)面粗糙(cao)度應當(dang)與(yu)試(shi)(shi)件相似。⒉測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)時側頭與(yu)試(shi)(shi)樣表(biao)面保持垂(chui)直。⒊時代測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)時要(yao)注(zhu)意(yi)(yi)基體金...
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維氏硬度計的壓痕對角線測量 維氏法中壓(ya)痕對角線(xian)增長(chang)與其壓(ya)痕面(mian)積增加成正(zheng)比，而布(bu)氏硬度壓(ya)痕(d)增加到一(yi)定程度后(hou)，d值變化小面(mian)積變大，這時測(ce)量誤(wu)差(cha)對測(ce)量結果(guo)影響較(jiao)(jiao)(jiao)大。因(yin)此，采用對角線(xian)長(chang)度計量的維氏法較(jiao)(jiao)(jiao)布(bu)氏法要精準。與洛氏法比較(jiao)(jiao)(jiao)，它有一(yi)個統一(yi)的標尺，可適(shi)用于(yu)較(jiao)(jiao)(jiao)大范(fan)圍變化的硬度測(ce)試，如某一(yi)種金...