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簡單介紹：
ATX280涂層測厚儀|漆膜測厚儀是一種實用型便攜式測量儀，能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量，既可用于實驗室，也可用于工程現場，使用不同的測頭，可滿足多種測量的需要，ATX280涂層測厚儀廣泛地應用在制造業、金屬加工、化工、商檢等領域，是材料保護專業必備的儀器。
詳情介紹：
ATX280涂層測厚儀概述
   ATX280涂層測(ce)厚儀(yi)|漆膜測(ce)厚儀(yi)是(shi)一(yi)種(zhong)實(shi)用(yong)(yong)型便攜式測(ce)量儀(yi)，能(neng)快速、無損(sun)傷、精密地(di)(di)進行涂、鍍層厚度的(de)測(ce)量，既(ji)可(ke)用(yong)(yong)于實(shi)驗室，也(ye)可(ke)用(yong)(yong)于工(gong)程現場，使(shi)用(yong)(yong)不同的(de)測(ce)頭，可(ke)滿足多種(zhong)測(ce)量的(de)需要(yao)，廣泛地(di)(di)應用(yong)(yong)在(zai)制(zhi)造業、金(jin)屬(shu)加工(gong)、化工(gong)、商檢等領域，是(shi)材料保護專業必備的(de)儀(yi)器。
ATX280涂層測厚儀符合以下標準：
  • GB/T4956-1985 磁性方法
  • GB/T4957-1985 渦流方(fang)法
  • JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測厚(hou)儀
  • JJG889-95 《磁阻法測(ce)厚儀》
  • JJG818-93 《電渦(wo)流式測厚儀》 

ATX280涂層測厚儀功能特點

  • 采用了磁性和(he)渦(wo)流兩(liang)種測厚(hou)方(fang)法，可無損地測量：
  • 1、磁性金(jin)屬基體(如鋼、鐵、合金(jin)等)上(shang)非磁性覆(fu)層厚(hou)度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡(xiang)膠(jiao)、油漆等)
  • 2、非(fei)磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫(xi)等)上非(fei)導電覆層厚度(如:橡膠、油漆(qi)、陽極(ji)氧化膜等
  • 采用金(jin)屬外(wai)殼、分體式(shi)設計(ji)，可配7種測量測頭(tou)，測頭(tou)磨損后，可與儀器主機重新進(jin)行自動(dong)匹配，延長測頭(tou)使用壽命
  • 可(ke)采用兩種方法(fa)對儀器(qi)進(jin)行手動(dong)校準，并可(ke)用基本校準法(fa)對測頭(tou)的系統誤差進(jin)行修正
  • 具有兩種測量(liang)方(fang)式：連續測量(liang)方(fang)式（CONTINUE）和單次測量(liang)方(fang)式（SINGLE）
  • 具有兩種(zhong)工作方(fang)式(shi)(shi)：直接(jie)方(fang)式(shi)(shi)（DIRECT）和成組(zu)方(fang)式(shi)(shi)（A-B）
  • 設有五個統(tong)計量：平均值(zhi)、最(zui)大(da)值(zhi)（MAX）、最(zui)小值(zhi)（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
  • 帶通訊接口(kou)，測(ce)量數(shu)(shu)據可(ke)以(yi)上傳計算機進(jin)行分析保(bao)存，可(ke)以(yi)打印數(shu)(shu)據
  • 具有存(cun)貯(zhu)功能：可存(cun)貯(zhu)10000個測量值
  • 具有(you)刪(shan)(shan)除功能：對測量(liang)中出現的單個可疑(yi)數據(ju)進(jin)行刪(shan)(shan)除，也可刪(shan)(shan)除存(cun)貯(zhu)區內的所有(you)數據(ju)
  • 可設置限界(jie)：對限界(jie)外的(de)測量(liang)值能自(zi)動報警(jing)
  • 具有電(dian)源欠壓指示功能
  • 操作過程有蜂鳴聲提示
  • 具有錯(cuo)誤提示功能，通過屏顯或(huo)蜂(feng)鳴聲進行(xing)錯(cuo)誤提示
  • 設有(you)兩種關(guan)(guan)機方式：手動(dong)(dong)關(guan)(guan)機方式和(he)自動(dong)(dong)關(guan)(guan)機方式
ATX280涂層測厚儀技術參數
  • 測頭類(lei)型：可選
  • 測量原理：磁感應和電(dian)渦流
  • 測量(liang)范(fan)圍：0-10000um
  • 顯示(shi)精(jing)度(du)：0.1um
  • 探頭連(lian)接(jie)方式(shi)：分體
  • 示值(zhi)誤差：F | N
  • 一(yi)點校準(um)：±[1%H+1um]
 .      兩點校準(um)：±[（1%~2%）H+1]
   1.最小(xiao)曲率(lv)半徑(jing)(mm)：凸1.5 | 凹9
  •    2.基體最小面積的直徑(mm)：ф7
  •    3.最小(xiao)臨界厚度(mm)：0.5
  •    4.最小曲率半(ban)徑(mm)：凸3 | 凹10
  •    5.基體最小(xiao)面積的直徑(mm)：ф5
  •    6.最(zui)小臨界厚(hou)度(du)(mm)：0.3
  • 測量條件(jian)：F | N
  • 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
  • 顯(xian)示(shi)內容：厚度(du)測量值(zhi)、耦合狀態、電(dian)量指(zhi)示(shi)、測頭(tou)類型(xing)指(zhi)示(shi)、實時溫(wen)度(du)補償指(zhi)示(shi)，測量模式指(zhi)示(shi)
  • 工作方式(shi)：直接方式(shi)(DIRECT)和成組方式(shi)(Appl)
  • 測量方式：連續(xu)測量方式（CONTINUE）和單次(ci)測量方式（SINGLE）
  • 上下限設置：有
  • 關機方式：手動(dong)和(he)自動(dong)
  • 電(dian)源：兩節1.5v電(dian)池
  • 外(wai)形尺寸(cun)：50×120×25mm
  • 重量(liang)：350g
ATX280涂層測厚儀基本配置
  • ATX280涂鍍層(ceng)測厚(hou)儀主機
  • F測(ce)頭(tou)或(huo)N測(ce)頭(tou)
  • 標準片(pian)一套
  • 鐵(tie)基體(ti)或鋁基體(ti)
  • 電池
  • 使用說明書

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