數顯(xian)韋氏硬(ying)度計基本原理參照美國ANSI/ASTM B647-87標(biao)準(zhun)及(ji)中(zhong)國有(you)色金屬行(xing)業YS/T420-2000《鋁合金韋氏硬(ying)度計(ji)(ji)》標(biao)準(zhun)設計(ji)(ji)制造。數顯(xian)韋氏硬(ying)度計(ji)(ji)與傳統鉗式硬(ying)度計(ji)(ji)相(xiang)對(dui)比，該款硬(ying)度計(ji)(ji)特征(zheng)在于檢測與顯(xian)示(shi)分開，可避免在檢測時因顯(xian)示(shi)裝置(zhi)被遮擋而無法讀取數值。

數顯韋氏硬度計的特點：

                                   ;         

1. 采用先進的微型(xing)光電傳感器，保證儀(yi)器測量(liang)精度

2. 數碼顯示硬度值(zhi)，避(bi)免肉眼觀察刻度盤產(chan)生的差。

3. 液晶顯示器具有背光(guang)功能。

4. 具有測量(liang)峰值自動鎖(suo)存能。

5. 具有自動(dong)關機功能

    

韋氏(shi)硬度計的用途：

       韋(wei)(wei)(wei)氏(shi)(shi)(shi)硬(ying)(ying)(ying)度(du)(du)檢測方(fang)(fang)法起源(yuan)于(yu)美國(guo)(guo)，由(you)美國(guo)(guo)Webster公司生(sheng)(sheng)產(chan)(chan)Webster B韋(wei)(wei)(wei)氏(shi)(shi)(shi)硬(ying)(ying)(ying)度(du)(du)計。韋(wei)(wei)(wei)氏(shi)(shi)(shi)硬(ying)(ying)(ying)度(du)(du)計早在20世紀(ji)80年代(dai)就(jiu)隨鋁(lv)(lv)型(xing)材(cai)生(sheng)(sheng)產(chan)(chan)線的(de)引進(jin)而進(jin)入我(wo)國(guo)(guo)。由(you)于(yu)其(qi)使用上的(de)特(te)點，應(ying)用逐年增多，且國(guo)(guo)內已能生(sheng)(sheng)產(chan)(chan)品(pin)質優良的(de)韋(wei)(wei)(wei)氏(shi)(shi)(shi)硬(ying)(ying)(ying)度(du)(du)計。現(xian)在已有(you)韋(wei)(wei)(wei)氏(shi)(shi)(shi)硬(ying)(ying)(ying)度(du)(du)計計量檢定規程“金(jin)屬(shu)韋(wei)(wei)(wei)氏(shi)(shi)(shi)硬(ying)(ying)(ying)度(du)(du)計JJG944―1999（試行(xing)）”和(he)有(you)色金(jin)屬(shu)行(xing)業(ye)標準《鋁(lv)(lv)合金(jin)韋(wei)(wei)(wei)氏(shi)(shi)(shi)硬(ying)(ying)(ying)度(du)(du)試驗(yan)方(fang)(fang)法》YS/T420—2000和(he)YS/T471—2004《銅合金(jin)韋(wei)(wei)(wei)氏(shi)(shi)(shi)硬(ying)(ying)(ying)度(du)(du)試驗(yan)方(fang)(fang)法》標準。但有(you)關韋(wei)(wei)(wei)氏(shi)(shi)(shi)硬(ying)(ying)(ying)度(du)(du)的(de)技術資料介紹較(jiao)少。韋(wei)(wei)(wei)氏(shi)(shi)(shi)硬(ying)(ying)(ying)度(du)(du)計用于(yu)快速檢測鋁(lv)(lv)合金(jin)型(xing)材(cai)、管材(cai)、板材(cai)、鋁(lv)(lv)零(ling)件(jian)及其(qi)他較(jiao)軟金(jin)屬(shu)的(de)硬(ying)(ying)(ying)度(du)(du)，判斷鋁(lv)(lv)型(xing)材(cai)有(you)無時(shi)效、時(shi)效是否合格(ge)、區分不同(tong)牌號的(de)鋁(lv)(lv)材(cai)及不同(tong)的(de)時(shi)效狀(zhuang)態。韋(wei)(wei)(wei)氏(shi)(shi)(shi)硬(ying)(ying)(ying)度(du)(du)計特(te)別(bie)適于(yu)在生(sheng)(sheng)產(chan)(chan)現(xian)場、銷售現(xian)場或施工現(xian)場對成批鋁(lv)(lv)型(xing)材(cai)及門窗(chuang)幕墻等進(jin)行(xing)快速、非破(po)壞性的(de)逐件(jian)合格(ge)檢查。

韋氏硬度(du)計的工作原(yuan)理：

       韋氏硬度計的基本(ben)原理是(shi)采用一定(ding)形狀的淬火壓針，在標準彈簧檢(jian)測力作用下壓入(ru)(ru)試樣(yang)表面，定(ding)義0.0lmm的壓入(ru)(ru)深度(du)(du)為一個韋氏硬度(du)(du)單位。材料的硬度(du)(du)與壓入(ru)(ru)深度(du)(du)成反比。壓入(ru)(ru)越(yue)(yue)淺(qian)硬度(du)(du)越(yue)(yue)高，壓入(ru)(ru)越(yue)(yue)深硬度(du)(du)越(yue)(yue)低(di)。

韋氏硬度計(ji)計(ji)算公式
HW=20-L/0.01 (8—1)
式中(zhong)：

HW——韋氏硬度符號；
L——壓針伸出長度(du)，即(ji)壓入試樣(yang)深度(du)/mm；
0.01——定義值/mm
硬(ying)度值的表示(shi)：如壓針只壓入(ru)深度0.05mm，表頭指針將(jiang)指示(shi)在(zai)15刻度。表示(shi)為(wei)(wei)HW=20-5=15單位硬度值，將(jiang)其(qi)書(shu)寫于(yu)硬度符號之前(qian)，即為(wei)(wei)15HW。

韋氏硬度計校準：

 1.標準硬度片
（1）韋氏(shi)硬度計應(ying)配備標(biao)準(zhun)硬度片，用于校準(zhun)。
（2）標(biao)準(zhun)硬(ying)度片的(de)工作面應(ying)標(biao)明韋氏硬(ying)度值和E標(biao)尺的(de)洛氏硬(ying)度值。
2.校準要(yao)求
（1）硬度計的滿(man)刻(ke)度校準值為20HW，允許誤差為±0.5HW。
（2）用(yong)標準硬(ying)度(du)片校準硬(ying)度(du)計，讀數應符合硬(ying)度(du)片標明的(de)硬(ying)度(du)值，其允許誤差±0.5HW。

韋氏(shi)硬度計檢測(ce)(ce)方(fang)法(fa)(fa)檢測(ce)(ce)方(fang)法(fa)(fa)檢測(ce)(ce)方(fang)法(fa)(fa)：

1. 將試(shi)樣(yang)(yang)置(zhi)于砧(zhen)座(zuo)和壓(ya)針之(zhi)間，壓(ya)針應與(yu)檢測面垂直，如圖8—4所示。輕輕壓(ya)下(xia)手(shou)柄，使壓(ya)針壓(ya)住(zhu)試(shi)樣(yang)(yang)。

2. 快速壓住手柄，施加足夠(gou)的(de)(de)力(li)，使(shi)壓針套筒(tong)的(de)(de)端面緊壓在試(shi)樣上，從(cong)表頭(tou)讀(du)出硬度(du)值(zhi)（**到0.5HW）。超出限度(du)的(de)(de)壓力(li)下，會(hui)被彈簧平衡(heng)掉(diao)，不會(hui)損壞硬度(du)計。

3. 再次(ci)測量時(shi)兩(liang)相鄰壓痕(hen)中心間距離(li)應(ying)不小于6mm。

4. 在測量(liang)較軟金屬時，表頭指(zhi)針會瞬間達(da)到(dao)某一數值，隨后可能(neng)會稍有下(xia)降，此時測量(liang)以觀(guan)察到(dao)的最大值為準。

5. 在(zai)一般(ban)情(qing)況下，每個(ge)試樣至少(shao)測量3個(ge)點。以測量值的算數平均值作為試樣 硬度值，

      計(ji)算結果修約到0.5HW